型号:

 

将您的显微镜变成薄膜测量工具 F40 产品系列用于测量小到 1 微米的光斑。 对大多数显微镜而言,F40 能简单地固定在 c 型转接器上,这样的转接器是显微镜行业标准配件。 F40 配备的集成彩色摄像机,能够对测量点进行准确监控。 在 1 秒钟之内就能测定厚度和折射率。 像我们所有的台式仪器一样,F40 需要连接到您装有 Windows 计算机的 USB 端口上并在数分钟内完成设定。




包含的内容:

集成光谱仪/光源装置

FILMeasure 8 软件

FILMeasure 独立软件 (用于远程数据分析)

MA-Cmount 安装转接器 显微镜转接器

光纤连接线

BK7 参考材料

TS-Focus-SiO2-4-10000 厚度标准 聚焦/厚度标准

BG-Microscope (作为背景基准)

·        型号规格

型号

厚度范围*

波长范围

F40

20nm-40μm

400-850nm

F40-EXR

20nm-120μm

400-1700nm

F40-NIR

40nm-120μm

950-1700nm

F40-UV

4nm-40μm

190-1100nm

F40-UVX

4nm-120μm

190-1700nm

*取决于薄膜种类

 

 

 

 

 

 

 

常见的选购配件:

多厚度硅基上的二氧化硅标准

可追溯的 NIST 厚度标准

SS-Microscope- UVX-1

SS-Microscope- EXR-1

StageBase-XY10-Auto-100mm

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