在线客服
021-64283335

首页 >产品中心>膜厚仪

膜厚仪

    1. +
      1. 便携式AFM
      2. 小样品AFM
      3. 大样品AFM
      4. 全自动AFM
      5. 生物型AFM
      6. 光诱导力显微镜IR/SNOM/TERS
      7. 扫描热学显微镜
      8. 扫描微波阻抗显微镜
      9. AFM In-SEM
      +
      1. D系列台阶仪
      2. P系列台阶仪
      +
      1. Zeta系列光学轮廓仪
      2. 白光干涉仪
      +
      1. 单点厚度测量
      2. 微米（显微）级光斑尺度厚度测量
      3. 自动厚度测量系统
      4. 在线厚度测量系统
      5. 椭偏仪
      6. 棱镜耦合仪
      +
      1. 表面等离子共振显微镜
      2. 表面等离子共振仪
      +
    7. +
    8. +
    +
    1. +
      1. 纳米拉伸仪
      +
      1. 原位TEM四自由度纳米操纵样品杆
      +
      1. 原位拉伸台
      2. In-SEM纳米操作机
      3. In-SEM纳米压痕
      +
    5. +
    +
    1. +
      1. 小型研发台
      2. 手动探针台
      3. 半自动探针台
      +
      1. 示波器
      2. 矢量网络分析仪
      3. 频谱分析仪
      4. 功率分析仪
      5. 参数分析仪
      6. 误码率测试仪
      7. 相干光信号分析仪
      8. 频率计数器
      +
      1. 探针及配件
      +
    +
      1. In-SEM原子力显微镜
      +
      1. In-SEM纳米压痕
      2. In-SEM 纳米操作机
      +
      1. 原位芯片及Holder
      +
    4. +
    5. +
    +
    1. +
    2. +
    3. +
    4. +
    5. +
    6. +
    7. +
    8. +
    9. +
    10. +
    11. +
    12. +
    +
    1. +
    2. +
    3. +
      1. 电镜样品清洗机
      2. 等离子清洗机
      3. 紫外臭氧清洗机
      +
      1. 被动隔震台
      2. 主动隔震台
      +
      1. 样品切割
      2. 镶嵌
      3. 研磨抛光
      +
      1. 工业/测量显微镜
      2. 视频显微镜
      3. 金相显微镜
      4. 偏光显微镜
      5. 立体/体视显微镜
      6. USB显微镜
      +
      1. 干燥箱
      2. 氮气柜
      +
    +
      1. AFM探针
      2. AFM标样基底
      +
      1. 氮化硅薄膜窗口
      2. Quantifoil多孔载网
      3. TEM耗材
      4. SEM耗材
      5. X-ray耗材
      +
      1. GGB探针
      +
      1. 光栅模板
      2. 点阵模板
      3. 孔状模板
      4. 纳米压印胶
      +
    5. +
    +
  • 光谱型椭偏仪

    采用采用PEM相位调制技术，在142-2100 nm范围内，可对薄膜、液体等材料的薄膜厚度和光学常数...

  • F20单点膜厚测量仪

    采用光谱反射技术实现nm到mm级薄膜厚度测量的单点光学膜厚测试系统。

  • F40显微膜厚测量仪

    采用光谱反射技术实现nm到mm级薄膜厚度测量的显微光学膜厚测试系统。

  • F50/F54 自动膜厚测量仪

    采用光谱反射技术实现nm到mm级薄膜厚度测量的自动光学膜厚测试系统。

  • 膜厚测量仪

    以真空镀膜为设计目标，可便捷获得反射和透射光谱并进行低/高分析、确定 FWHM 并进行颜色分析。

  • 棱镜耦合仪

    SPA-4000棱镜耦合仪利用波导耦合原理可以测量薄膜或体块材料的折射率和薄膜厚度以及其热光系数，波...

  • F30 在线膜厚测试仪

    采用光谱反射技术，在线监测沉积率、沉积层厚度、光学常数和半导体以及电介质层的均匀性。

  • F60 全自动膜厚测试仪

    增加了许多用于生产环境的功能，不同的F60仪器可根据波长范围加以区分。

  • F3 单点膜厚测试仪

    采用光谱反射技术实现nm到mm级薄膜厚度测量的单点光学膜厚测试系统。