在线客服
021-64283335

首页> > 产品中心 > 徕卡自动修块抛光机 Leica EM TXP

      1. 便携式AFM
      2. 小样品AFM
      3. 大样品AFM
      4. 全自动AFM
      5. 生物型AFM
      6. 光诱导力显微镜IR/SNOM/TERS
      7. 扫描热学显微镜
      8. 扫描微波阻抗显微镜
      9. AFM In-SEM
      +
      1. D系列台阶仪
      2. P系列台阶仪
      +
      1. Zeta系列光学轮廓仪
      2. 白光干涉仪
      +
      1. 单点厚度测量
      2. 微米（显微）级光斑尺度厚度测量
      3. 自动厚度测量系统
      4. 在线厚度测量系统
      5. 椭偏仪
      6. 棱镜耦合仪
      +
      1. 表面等离子共振显微镜
      2. 表面等离子共振仪
      +
    6. +
    7. +
    +
    1. +
      1. 纳米拉伸仪
      +
      1. 原位TEM四自由度纳米操纵样品杆
      +
      1. 原位拉伸台
      2. In-SEM纳米操作机
      3. In-SEM纳米压痕
      +
    5. +
    +
    1. +
      1. 小型研发台
      2. 手动探针台
      3. 半自动探针台
      +
      1. 示波器
      2. 矢量网络分析仪
      3. 频谱分析仪
      4. 功率分析仪
      5. 参数分析仪
      6. 误码率测试仪
      7. 相干光信号分析仪
      8. 频率计数器
      +
      1. 探针及配件
      +
    +
      1. In-SEM原子力显微镜
      +
      1. In-SEM纳米压痕
      2. In-SEM 纳米操作机
      +
      1. 原位芯片及Holder
      +
    4. +
    5. +
    +
    1. +
    2. +
    3. +
    4. +
    5. +
    6. +
    7. +
    8. +
    9. +
    10. +
    +
    1. +
      1. 电镜样品清洗机
      2. 等离子清洗机
      3. 紫外臭氧清洗机
      +
      1. 被动隔震台
      2. 主动隔震台
      +
      1. 样品切割
      2. 镶嵌
      3. 研磨抛光
      +
      1. 工业/测量显微镜
      2. 视频显微镜
      3. 金相显微镜
      4. 偏光显微镜
      5. 立体/体视显微镜
      6. USB显微镜
      +
      1. 干燥箱
      2. 氮气柜
      +
    +
      1. AFM探针
      2. AFM标样基底
      +
      1. 氮化硅薄膜窗口
      2. Quantifoil多孔载网
      3. TEM耗材
      4. SEM耗材
      5. X-ray耗材
      +
      1. GGB探针
      +
      1. 光栅模板
      2. 点阵模板
      3. 孔状模板
      4. 纳米压印胶
      +
    5. +
    +
徕卡自动修块抛光机 Leica EM TXP
品 牌 ：徕卡
型 号 ： Leica EM TXP
产 地 ：美国
关键词 ：多功能机械研磨抛光机、体视显微镜观察系统
产品手册下载

多功能机械研磨抛光机，适用于对目标定位，进行铣削，切割，冲钻，研磨，修块及抛光
*适合于样品微小目标的精细定位、切割等加工
*可用于EM RES101样品前制备，获得3mm样品圆片（两面平行，厚度可达1μm量级）；可用于EM TIC 3X/EM UC7样品前制备，对样品进行机械修块；可用于光镜观察样品
*工具前进步进：100μm，10μm，1μm及0.5μm可选。显示进程，并具有快进和撤回功能
*工具轴承转速：300-20000rpm可调
*具有自动进程倒计数，自动时间倒计时功能，具有自动应力反馈功能
*样品处理过程可由蠕动泵自动泵取冷却液/研磨液，并带有吸尘装置
*带有体视显微镜观察系统，LED环形照明，4分格，带有坐标尺，可选配摄像头