在线客服
021-64283335

首页> > 产品中心 > 电镜原位偏压加热系统

      1. 便携式AFM
      2. 小样品AFM
      3. 大样品AFM
      4. 全自动AFM
      5. 生物型AFM
      6. 光诱导力显微镜IR/SNOM/TERS
      7. 扫描热学显微镜
      8. 扫描微波阻抗显微镜
      9. AFM In-SEM
      +
      1. D系列台阶仪
      2. P系列台阶仪
      +
      1. Zeta系列光学轮廓仪
      2. 白光干涉仪
      +
      1. 单点厚度测量
      2. 微米(显微)级光斑尺度厚度测量
      3. 自动厚度测量系统
      4. 在线厚度测量系统
      5. 椭偏仪
      6. 棱镜耦合仪
      +
      1. 表面等离子共振显微镜
      2. 表面等离子共振仪
      +
    1. +
    2. +
    +
    1. +
      1. 纳米拉伸仪
      +
      1. 原位TEM四自由度纳米操纵样品杆
      +
      1. 原位拉伸台
      2. In-SEM纳米操作机
      3. In-SEM纳米压痕
      +
    2. +
    +
    1. +
      1. 小型研发台
      2. 手动探针台
      3. 半自动探针台
      +
      1. 示波器
      2. 矢量网络分析仪
      3. 频谱分析仪
      4. 功率分析仪
      5. 参数分析仪
      6. 误码率测试仪
      7. 相干光信号分析仪
      8. 频率计数器
      +
      1. 探针及配件
      +
    +
      1. In-SEM原子力显微镜
      +
      1. In-SEM纳米压痕
      2. In-SEM 纳米操作机
      +
      1. 原位芯片及Holder
      +
    1. +
    2. +
    +
    1. +
    2. +
    3. +
    4. +
    5. +
    6. +
    7. +
    8. +
    9. +
    10. +
    +
    1. +
      1. 电镜样品清洗机
      2. 等离子清洗机
      3. 紫外臭氧清洗机
      +
      1. 被动隔震台
      2. 主动隔震台
      +
      1. 样品切割
      2. 镶嵌
      3. 研磨抛光
      +
      1. 工业/测量显微镜
      2. 视频显微镜
      3. 金相显微镜
      4. 偏光显微镜
      5. 立体/体视显微镜
      6. USB显微镜
      +
      1. 干燥箱
      2. 氮气柜
      +
    +
      1. AFM探针
      2. AFM标样基底
      +
      1. 氮化硅薄膜窗口
      2. Quantifoil多孔载网
      3. TEM耗材
      4. SEM耗材
      5. X-ray耗材
      +
      1. GGB探针
      +
      1. 光栅模板
      2. 点阵模板
      3. 孔状模板
      4. 纳米压印胶
      +
    1. +
    +
电镜原位偏压加热系统
品 牌 :Norcada
型 号 :NHB-SNL
产 地 :Canada
关键词 :原位加热,原位偏压,原位电化学

简介

Norcada提供了广泛的MEMS电偏压和电化学芯片。Norcada还可以提供客户定制的软件包,包括用于基于 STXM的应用程序的支架和MEMS芯片。主要提供两种基于MEMS技术的原位系统,使用同一个SEM样品台既可以实现不同的原位解决方案电学、加热等不同应用。

NHB-SNL具有以下优点

NHB-SNLNorcada推出的原位解决系统,可以使用同一个样品台,实现不同的原位应用,比如电学、加热、电化学等不同应用。


 (以下参数基于NHB-SNL)



l  针对纳米材料的原位偏压测试系统




—使用偏压芯片(装有4根引线)作为样品的观察装置,具有 AC和DC双模式

—标准控制器可以提供毫安/毫伏测量范围,通过配置不同控制器可以实现皮安/纳安级电流的测量,电压范围~40V

l  原位加热可达1100

—原位加热芯片实现原位加热测试及相关研究应用。

—加热芯片可以对大样品进行原位加热观察,可测样品尺寸 1mm,温度可达 1100℃

—加热装置可以持续数小时工作,在1000℃范围内加热/冷却速度只需 1秒

—无须外接水冷系统。

—优秀的密封设计可以使得液体、气体在真空环境下安全、良好地工作。

二、主要功能

主要应用

X-RAY、电子显微镜、同步辐射的原位系统

电化学、液体芯片

原位加热(纳米器件的微结构、集成光学器件、半导体、材料等)

三、应用

1. SEM原位加热应用(固体样品、液体样品)


2. TEM原位液体池

3. FIB半导体样品加热


4.原位电化学观测(SEM/TEM/XRAY/XRD