在线客服
021-64283335

首页> > 产品中心 > FT-NMT04纳米力学性能测试系统

      1. 便携式AFM
      2. 小样品AFM
      3. 大样品AFM
      4. 全自动AFM
      5. 生物型AFM
      6. 光诱导力显微镜IR/SNOM/TERS
      7. 扫描热学显微镜
      8. 扫描微波阻抗显微镜
      9. AFM In-SEM
      +
      1. D系列台阶仪
      2. P系列台阶仪
      +
      1. Zeta系列光学轮廓仪
      2. 白光干涉仪
      +
      1. 单点厚度测量
      2. 微米(显微)级光斑尺度厚度测量
      3. 自动厚度测量系统
      4. 在线厚度测量系统
      5. 椭偏仪
      6. 棱镜耦合仪
      +
      1. 表面等离子共振显微镜
      2. 表面等离子共振仪
      +
    1. +
    2. +
    +
    1. +
      1. 纳米拉伸仪
      +
      1. 原位TEM四自由度纳米操纵样品杆
      +
      1. 原位拉伸台
      2. In-SEM纳米操作机
      3. In-SEM纳米压痕
      +
    2. +
    +
    1. +
      1. 小型研发台
      2. 手动探针台
      3. 半自动探针台
      +
      1. 示波器
      2. 矢量网络分析仪
      3. 频谱分析仪
      4. 功率分析仪
      5. 参数分析仪
      6. 误码率测试仪
      7. 相干光信号分析仪
      8. 频率计数器
      +
      1. 探针及配件
      +
    +
      1. In-SEM原子力显微镜
      +
      1. In-SEM纳米压痕
      2. In-SEM 纳米操作机
      +
      1. 原位芯片及Holder
      +
    1. +
    2. +
    +
    1. +
    2. +
    3. +
    4. +
    5. +
    6. +
    7. +
    8. +
    9. +
    10. +
    +
    1. +
      1. 电镜样品清洗机
      2. 等离子清洗机
      3. 紫外臭氧清洗机
      +
      1. 被动隔震台
      2. 主动隔震台
      +
      1. 样品切割
      2. 镶嵌
      3. 研磨抛光
      +
      1. 工业/测量显微镜
      2. 视频显微镜
      3. 金相显微镜
      4. 偏光显微镜
      5. 立体/体视显微镜
      6. USB显微镜
      +
      1. 干燥箱
      2. 氮气柜
      +
    +
      1. AFM探针
      2. AFM标样基底
      +
      1. 氮化硅薄膜窗口
      2. Quantifoil多孔载网
      3. TEM耗材
      4. SEM耗材
      5. X-ray耗材
      +
      1. GGB探针
      +
      1. 光栅模板
      2. 点阵模板
      3. 孔状模板
      4. 纳米压印胶
      +
    1. +
    +
FT-NMT04纳米力学性能测试系统
品 牌 :FemtoTools
型 号 :FT-NMT04
产 地 :瑞士
关键词 :压痕仪、力学测试、原位、高温

简介

FT-NMT04纳米机械测试系统是一种多功能的原位扫描电镜/光纤纳米压头,能够准确量化材料在微观和纳米尺度上的力学行为。

FT-NMT04基于Femtotools微电子机械系统(MEMS)技术,这种原位纳米压头具有无与伦比的分辨率、重复性和动态响应。 FT-NMT04原位纳米压头用于金属、陶瓷、薄膜以及超材料和MEMS等微观结构的力学测试。此外,通过使用各种附件,FT-NMT04的性能可以扩展到各个研究领域的通用要求。典型的应用包括通过对微孔的压缩试验或对骨标本、薄膜或纳米线的拉伸试验来量化塑性变形机制。此外,压缩试验过程中的连续刚度测量可以量化微梁断裂试验过程中的裂纹扩展和断裂韧性。由于500 pn和50 pm的低噪声,FT-NMT04浅纳米压痕具有很好的重复性,以及纳米压痕与EBSD映射的空前相关性。

 

二、 功能

主要功能

FT-MNT04原位SEM纳米压痕仪,可以做纳米压痕、微柱压缩测试、微悬臂梁断裂测试、为拉伸测试、STEM/EBSD相关的原位纳米机械测试。其中纳米压痕功能可以进行低体积材料硬度和杨氏模量的测定、 接触力学和动力响应的量化、多轴应力下变形机理的表征;微柱压缩测试功能可以进行滑动系统临界剪切应力的测定、单轴应力下变形机理的表征、延伸损伤和局部应变量化;微悬臂断裂测试功能可以进行亚微米断裂韧性连续J积分、单调循环断裂行为的表征、单个裂纹产生和扩展的量化。微拉伸测试功能可以进行屈服应力、较为限拉伸应力和断裂伸长的测定、单调循环载荷下断裂的表征、局部应变效应和裂纹扩展的量化STEM/EBSD相关的原位纳米机械测试功能可以进行局部应变的定量研究、相变的定量研究、纹理演化的定量研究、位错动力学定量研究、晶界迁移的定量研究

技术特点

纳米压痕、压缩、张力、断裂和疲劳试验

无需复合、动态校准即可进行连续硬度测量或疲劳测试

高温测试温度可达400℃ 

压头面积函数和框架合规性的简单确定

功率数据分析工具,用于评估测量结果和拟合功能计算材料性能

可快速安装和移SEM腔室

紧凑,模块化的设计能够集成到几乎所有的扫描电镜中

可定制测量程序

技术能力

力感测

-力范围:~200 mN

-力噪声:0.5 nN(10 Hz时)

-测量频率高达96 kHz

位移传感(粗)

-位移范围:21 mm

-位移噪声:1nm10Hz

-测量频率:50Hz

位移传感(精细)

-位移范围:25μm

-位移噪声:0.05nm10Hz)

-测量频率高达96 kHz

3、4和5轴力传感器与样品对准

-X、Y、Z闭环定位范围:21mm x 12mm x 12 mm

-X、Y、Z闭环定位噪声:1nm

-样品倾斜范围:90°

-样品旋转范围:360°(FT-NMT04-XYZ-R),180°(FT-NMT04-XYZ-RT)

-样品角噪声:35微度